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2016年12月15日 (木)

High Impedance Analyzer for Analog Discovery-2

High Impedance Analyzerの測定原理です。

Photo

High Impedance Analyzer for Analog Discoveryの基板は4枚構成です。
一番上の基板はAWGからの信号が浮遊容量を介しての回り込み低減のために右上のランドからケースへ配線で接続します。
切り込み部にはスプリングをいれて陸軍端子を緩めると隙間ができてリード線を差し込みやすいようにしました。
また楕円状基板へのケルビン接続のための信号パターンがあります。
メイン基板にはインピーダンス測定回路とハウランド・カーレント・ポンプ回路が実装できますがハウランド・カーレント・ポンプ回路は使用しません。
楕円状の基板はケルビン接続のセンス端子として使用します。
反対側は同じパターンでハンダレベラー仕上げです。
ビアをリング上に配置して強度を確保しました。
長方形の基板にはAnalog Discoveryに直接接続するためのコネクターを実装します。

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