« Impedance Analyzer Interface(IAI)_3 | トップページ | Impedance Analyzer Inteface_5(Schematic & BOM) »

2018年4月 7日 (土)

Impedance Analyzer Interface(IAI)_4

さきのProadlizer OE128に電気二重層キャパシタ(3.5F/5.4V)を並列接続した結果の追試です。

ショート補正は白いコネクタで行なっていますので電気二重層キャパシタをショートポイントへ移動しました。

20180407_134255

結果ですがMLCCの効果はでていました。
原因のインダクタンス成分は電気二重層キャパシタではなく
白いコネクタから黒いコネクタのパターンと黒コネクタ接続時のインダクタンス成分でした。

20180407_140848

確認作業です。

白いコネクタ部でショート補正をしてショート測定した結果は下のカーブです。

これが測定限界値になります。

その状態でショートポイントを黒いターミナルブロックに移動しました。

裏はベタアースで短い距離ですが

パターンと黒ブロック接続の影響で100KHz以上はインピーダンスが上昇していました。

*******

今回の実験でわかったことは100KHz以上までデータが必要な時は

必ずショート補正ポイントへ至近で接続すること。

100KHz以下は両方のコネクタへ並列接続してもよいという結果になりました。

20180407_142707

最終データを収集する時は直前にショート補正を再度行うと万全です。

Analog DiscoveryのImpedance Analyzer機能は補正作業と実装に気をつけると

とても便利に使えると思いました。

白いテストピースの6ピンコネクタは

ホット、コールドに各3ピンを割り当てて並列接続してあります。

接続時のインダクタンス成分を減少させるためです。

テストピースは結構便利に使えました。

*******************************

Proadlizerの特性は素晴らしかったです。

提供していただいたM氏に感謝いたします。

おかげさまで

ジグでジグの残留インピーダンスを測定できたり新しい発見がありました。

« Impedance Analyzer Interface(IAI)_3 | トップページ | Impedance Analyzer Inteface_5(Schematic & BOM) »

01-5.インピーダンス・アナライザ(Made in TOKYO)」カテゴリの記事

コメント

Proadlizerがご興味にマッチしたようで、とても嬉しく思います。
素晴らしい測定結果をありがとうございました!
ぜひ一度ディジタルオーディオ機器にお試しください。

デバイスを実装する側から見ると色々示唆に富んだ素敵な測定実験でした。応用させて頂きます。ありがとうございました。

Bunpeiさん
ありがとうございました。
現在DAC等は分解して試せない状態です。
基板化したときに至近にProadlizerを配置してみたいですが
シャントレギュレータのフラットなインピーダンス特性も捨てがたいとおもっています。

tetuさん
コメントは励みになりました。
これからも宜しくお願いします。

コメントを書く

(ウェブ上には掲載しません)

トラックバック

この記事のトラックバックURL:
http://app.f.cocolog-nifty.com/t/trackback/1022763/73255232

この記事へのトラックバック一覧です: Impedance Analyzer Interface(IAI)_4:

« Impedance Analyzer Interface(IAI)_3 | トップページ | Impedance Analyzer Inteface_5(Schematic & BOM) »